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產品型號:TEB-225PF
廠商性質:生產廠家
更新時間:2026-03-09
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本產品為快速溫變試驗箱,專為電子元器件、半導體器件及PCB電路板的加速老化與應力篩選測試設計。設備采用能量平衡調溫技術,可實現每分鐘5℃至15℃的線性升溫與降溫,滿足高低溫快速交變下的可靠性測試需求。
主要用于模擬電子元器件在溫差變化環境下的工作狀態,通過快速溫度循環,誘發產品潛在缺陷(如焊點開裂、材料疲勞、密封失效),從而評估其壽命與可靠性,廣泛用于產品研發、質量控制及生產篩選階段。
基于強制對流與能量平衡技術。箱體內置大功率加熱元件與壓縮機制冷系統,配合強力循環風機,使箱內空氣高速流動。通過微電腦PID控制系統,精確調節制冷劑流量與加熱輸出,實現溫度的快速上升與下降,確保溫變速率恒定且過沖小。
外箱材質:優質防銹冷軋鋼板,表面靜電噴塑處理,耐腐蝕易清潔。
內箱材質:SUS304/316不銹鋼,鏡面或拉絲處理,耐高低溫且無污染。
保溫層:高密度聚氨酯發泡+玻璃纖維棉,厚度達100mm以上,確保保溫性能及外箱溫度正常。
密封條:定制硅膠材質,耐老化、不變形,確保高溫低溫下箱體密封性。
觀察窗:多層中空防霜玻璃,內置LED照明,實時觀察樣品狀態。
溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可選)
溫變速率:5℃/min、10℃/min、15℃/min(線性或平均可選)
溫度均勻度:≤2.0℃
溫度波動度:≤±0.5℃
內箱尺寸:按需定制(如500L、800L、1000L等)
控制器:7/10寸彩色觸摸屏PLC可編程控制器,支持100組程序循環
制冷方式:機械壓縮復疊式制冷(環保冷媒R404A/R23)
冷卻方式:風冷或水冷可選
IEC 60068-2-14:環境試驗 第2-14部分:溫度變化試驗
MIL-STD-2164:電子設備環境應力篩選方法
JESD22-A104:溫度循環測試標準
GB/T 2423.22:電工電子產品環境試驗 溫度變化
電子元器件:IC芯片、電阻電容、二極管三極管
PCB/PCBA:電路板組裝件
汽車電子:傳感器、連接器、控制模塊
通訊設備:5G模塊、高頻元件
航空航天:精密儀表、連接器
高效溫變速率:采用進口壓縮機與優化風道,確保升降溫快速且平穩。
精準控制:高精度PID+SSR控制,無超調,長期運行穩定。
節能環保:變頻制冷技術,低功耗運行,降低運營成本。
多重保護:超溫保護、壓縮機過熱/過載保護、風機故障報警等。
數據記錄:標配RS485/USB接口,實時導出數據,便于追溯分析。
模塊化結構:制冷機組與箱體分離式設計,便于維護與散熱。
風道優化:采用上出風下回風的氣流組織,確保箱內溫差最小化。
防凝露設計:觀察窗及測試孔均帶加熱功能,防止低溫凝露結霜。
人性化操作:大尺寸觸摸屏,界面簡潔,支持多國語言,操作便捷。






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