可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環境測試儀器

產品概述

可編程冷熱沖擊箱是一款專為半導體芯片、電子元器件等產品設計的高可靠性環境測試設備。它通過瞬間的高溫與極低溫轉換，模擬嚴苛的溫度環境，從而加速暴露測試品因熱脹冷縮效應產生的材料老化、性能失效等問題。本設備采用觸摸屏編程控制器與高精度溫控系統，確保測試過程的精確、可靠與高效，是提升產品質量與可靠性的關鍵儀器。

產品用途

本設備主要用于測試半導體芯片、集成電路（IC）、微電子模塊、PCB板及其他電子元器件在突然遭遇溫度變化時的耐受能力。通過該項測試，可以有效評估產品的壽命、可靠性及封裝工藝的完整性，為改進設計、篩選缺陷產品提供關鍵數據支持。

工作原理

設備采用成熟的三箱式（預熱區、測試區、預冷區）結構。測試時，待測樣品置于測試區（吊籃）中。當需要溫度轉換時，吊籃會在程序控制下，在極短時間內（通常＜10秒）從測試區移動至已達到設定高溫的預熱區或設定低溫的預冷區，從而實現樣品溫度的急劇變化。這種結構避免了傳統溫箱整體降溫/升溫的滯后，能產生真正的“溫度沖擊"效應。

可編程冷熱沖擊箱 半導體芯片環境測試儀器

技術特點

• 精準可編程： 大尺寸彩色觸摸屏，可預設多條復雜溫度曲線，支持溫度斜率、駐留時間、循環次數等參數靈活設定。

• 高效沖擊： 三箱式設計，溫度轉換時間＜10秒，能迅速在高溫（如+150℃）和低溫（如-65℃）之間切換。

• 溫場： 采用強制空氣循環系統，確保測試區內溫度均勻穩定，保證測試條件的一致性。

• 可靠耐用： 核心制冷與加熱部件均采用國際品牌，確保設備長期穩定運行，壽命長久。

• 安全保障： 具備完善的超溫保護、漏電保護、風機過熱保護及故障自診斷功能，確保操作安全。

技術參數

• 溫度范圍： 高溫區：+60℃ ~ +200℃；低溫區：-10℃ ~ -65℃（或依配置而定）

• 升溫/降溫時間： 約5分鐘內可從常溫升至高溫；約10分鐘內可從常溫降至低溫。

• 溫度轉換時間： ≤ 10秒（樣品從移動開始到到達目標槽的時間）。

• 溫度波動度： ±0.5℃

• 溫度均勻度： ±2.0℃

• 內箱材質： SUS304不銹鋼，耐腐蝕，易于清潔。

滿足標準

設備設計嚴格遵循并滿足以下國際、國內測試標準：

• GB/T 2423.22

• IEC 60068-2-14

• JESD22-A104

• MIL-STD-883

• EIA-364等

應用領域

除核心的半導體芯片測試外，本設備還廣泛應用于：

• 航空航天： 機載電子設備、衛星元器件的可靠性篩選。

• 汽車電子： 發動機控制單元（ECU）、傳感器、車載娛樂系統在溫度下的性能測試。

• 通信設備： 5G模塊、光通訊器件、基站設備的環境適應性驗證。