半導體專用冷熱沖擊測試設備生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情

本設備是一款為半導體行業量身定制的高精密可靠性測試儀器，主要用于模擬半導體芯片、封裝體、集成電路等產品在高低溫快速交替變化環境下的耐受能力。其核心在于實現溫度的急劇、精準轉換，以加速暴露產品潛在的材料與結構缺陷，是確保半導體產品可靠性、驗證其設計壽命的關鍵設備。

半導體專用冷熱沖擊測試設備主要用途

• 可靠性驗證： 評估半導體器件（如CPU、存儲器、功率芯片等）在溫度劇烈波動下的電氣性能穩定性和物理結構完整性。

• 失效分析： 通過加速應力測試，快速誘發并識別因熱膨脹系數不匹配、焊點疲勞、分層、開裂等導致的早期失效。

• 工藝與質量篩選： 在出廠前篩選出存在熱性能缺陷的次品，提升產品批次質量。

• 研發與認證： 滿足JEDEC、AEC-Q100（車規）、MIL-STD-883等國際與行業標準中的嚴苛溫度沖擊測試要求。

技術參數

• 溫度范圍： 高溫區：+85℃ ~ +200℃；低溫區：-55℃ ~ -65℃（可擴展至-85℃）

• 轉換時間： ≤ 10秒（樣品從高溫區移至低溫區或反之的時間，氣動提籃式）

• 溫度恢復時間： ≤ 5分鐘（沖擊后恢復至設定溫度的時間）

• 內箱尺寸： 根據晶圓、托盤或JEDEC標準定制（如40cm x 40cm x 40cm）

• 溫度波動度： ±0.5℃

• 溫度均勻度： ±2.0℃

• 控制方式： 7英寸及以上彩色觸摸屏，PLC+溫控模塊，可編程多段沖擊循環

基本結構

設備通常采用三箱式（提籃式）結構，分為：

1. 高溫儲熱區： 內置高效加熱器與風扇。

2. 低溫儲冷區： 內置壓縮機制冷系統或液氮注入系統。

3. 樣品測試區： 位于通過氣動驅動提籃，將樣品在高溫區和低溫區之間快速、平穩移動。

4. 控制系統： 集成于設備前部，包含人機界面、數據記錄單元及安全保護裝置。

工作原理

設備預先將高溫區和低溫區分別加熱和冷卻至設定溫度并保持穩定。測試開始時，樣品置于測試區（初始溫度可選）。啟動測試程序后，氣動機構迅速將載有樣品的提籃移入高溫區，進行高溫暴露；達到設定時間后，再快速移入低溫區進行低溫暴露，如此反復循環。整個過程溫度變化劇烈，對樣品形成熱沖擊應力。

主要功能及特點

• 超快速轉換： 確保形成真正的“沖擊"效應，而非緩慢溫變。

• 高精度控制： 采用PID+SSR精確控溫，確保溫度穩定性和重復性，滿足半導體測試的嚴苛要求。

• 低熱負載設計： 優化氣流與熱交換，減少樣品本身對箱內溫度場的干擾。

• 防震與平穩傳輸： 提籃移動平穩，避免劇烈震動對精密半導體樣品造成額外損傷。

• 完善的數據記錄與追溯： 實時記錄并存儲溫度曲線、沖擊次數、報警信息等，支持U盤導出。

• 多重安全防護： 具有超溫保護、電機過載保護、樣品區門鎖保護、斷電恢復等安全功能。

• 人機友好界面： 圖形化編程，測試流程設置直觀簡便。

應用領域

• 集成電路（IC）設計與制造

• 半導體芯片封裝與測試

• 功率器件模塊（IGBT、SiC、GaN）

• 微機電系統（MEMS）傳感器

• 晶圓級封裝（WLP）可靠性評估

• 汽車電子（尤其是車規級芯片認證）