HAST加速老化箱 集成電路可靠性評估設備生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情

HAST箱是一種利用高溫、高濕、高壓非飽和蒸汽環境，對電子產品（尤其是集成電路）進行快速可靠性評估與壽命預測的專用環境試驗設備。它通過極大地加速由濕氣滲透引發的失效過程，能夠在幾天或幾周內模擬出正常大氣環境下數年才能出現的故障，是電子元器件可靠性驗證和工藝篩選的關鍵工具。

 HAST加速老化箱 集成電路可靠性評估設備

主要用途

本設備主要用于評估塑料封裝集成電路及其他非氣密性元器件的耐潮濕可靠性。其核心目的是：

1. 加速壽命測試：預測產品在高溫高濕環境下的長期工作壽命。

2. 失效機理激發：快速暴露因濕氣侵入導致的失效，如金屬化腐蝕、離子遷移、封裝開裂、焊點失效等。

3. 工藝與材料評估：比較不同封裝材料、密封工藝和芯片鈍化層質量的優劣。

4. 可靠性篩選：用于產品研發階段或批產初期的可靠性強化試驗，剔除早期缺陷品。

技術參數

• 溫度范圍：105℃ ~ 150℃（可設定）

• 濕度范圍：75% ~ 100% RH（非飽和狀態）

• 壓力范圍：0.1 ~ 0.3 MPa

• 升溫/降溫時間：約40分鐘內從室溫升至設定條件

• 溫濕度均勻度：±0.5℃, ±3% RH

• 內膽材質：高級不銹鋼（耐腐蝕）

• 安全裝置：超溫保護、超壓保護、缺水保護、異常報警

工作原理

HAST箱通過電加熱器將去離子水加熱，產生高壓飽和蒸汽。通過精密的溫度和壓力控制系統，將箱內環境維持在非飽和蒸汽狀態（溫度高于該壓力下的飽和點）。這種狀態避免了冷凝水直接滴落于樣品上，同時創造了水汽分壓，驅使水分子以極快的速度穿透塑料封裝材料，直達芯片表面，從而加速了電化學腐蝕等濕氣相關失效過程。

主要功能及特點

• 高加速因子：試驗速度是傳統恒溫恒濕試驗（如85℃/85% RH）的數十倍甚至上百倍。

• 精確的非飽和控制：溫壓耦合控制算法，確保環境嚴格處于非飽和區，測試條件準確、可重復。

• 實時監控與記錄：可全程監控并記錄溫度、濕度、壓力及運行時間。

• 多重安全防護：具備完善的安全連鎖與報警系統，確保設備和操作人員安全。

• 兼容性廣：測試腔體可根據客戶需求定制樣品架，適配不同封裝形式的IC。

應用場景

• 半導體行業：芯片設計公司、封裝測試廠、晶圓制造廠。

• 汽車電子：用于滿足AEC-Q100等車規級芯片的可靠性認證。

• 航空航天：高可靠性元器件篩選與鑒定。

• 科研機構與質檢單位：進行電子材料與可靠性基礎研究。

技術特點

1. 快速高效：極大縮短可靠性驗證周期，加快產品上市速度。

2. 高可靠性激發能力：對濕氣敏感型失效機理的激發能力。

3. 標準化：符合JESD22-A110（HAST）、JESD22-A118等國際通用測試標準。

4. 數據科學性：可根據阿倫尼烏斯模型等，將加速測試結果外推至實際使用條件下的壽命。

5. 工藝改進導向：測試結果可直接用于指導改進芯片設計、封裝工藝和材料選擇。