高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體器件檢測專用生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情

本產品是專為半導體器件（如芯片、集成電路、封裝模塊等）可靠性驗證設計的高精密環境測試設備。它通過極速的溫度轉換，模擬器件在應用、運輸或存儲中遭遇的劇烈溫度變化，提前暴露其材料、焊接和結構缺陷，是保障半導體產品質量與壽命的關鍵檢測儀器。

高低溫冷熱沖擊試驗箱 半導體器件檢測專用

主要用途

用于測試半導體器件在瞬間經歷高低溫變化時的耐受能力，主要考核：

• 材料性能： 硅晶圓、封裝樹脂、鍵合線等不同材料的熱膨脹系數匹配性。

• 互聯可靠性： 焊點、焊球（BGA）、鍵合點的疲勞與斷裂。

• 封裝完整性： 因熱應力導致的分層、開裂、氣密性失效。

• 電氣性能穩定性： 溫度劇烈沖擊后的功能與參數漂移。

技術參數

• 溫度范圍： 高溫區 +150°C ~ +200°C；低溫區 -65°C ~ -10°C（可擴展至 -80°C）。

• 轉換時間： <10秒（氣動風門切換式），實現高溫與低溫儲存區之間的快速樣品轉移。

• 溫度恢復時間： 5分鐘內恢復至設定溫度。

• 樣品承載量： 根據型號定制，通常配備多層樣品架或專用IC測試托盤。

• 內箱尺寸： 可根據客戶標準測試板或測試插座尺寸定制。

箱體結構與材質

• 外箱體： 優質冷軋鋼板，靜電噴涂，美觀防銹。

• 內箱體： 核心區域采用高級不銹鋼（SUS304），確保潔凈、耐腐蝕、無污染，符合半導體測試環境要求。

• 保溫層： 高密度硬質聚氨酯發泡，保溫性能優異。

• 樣品移動機構： 高剛性吊籃或小車，由氣動或伺服電機驅動，確保平穩、精確、快速地在溫區之間移動。

工作原理（兩箱式/提籃式）

設備分為獨立的高溫儲存區、低溫儲存區和測試區。待測半導體樣品置于提籃中。測試時，提籃根據預設程序，在高溫區（如+150°C）和低溫區（如-55°C）之間進行高速往復移動。樣品在高溫區受熱，在低溫區冷卻，從而承受劇烈的熱應力沖擊，而非緩慢的溫度變化。

滿足標準

• JEDEC: JESD22-A104（溫度循環）、JESD22-A106（熱沖擊）

• MIL-STD: MIL-STD-883H Method 1010.9（溫度沖擊）

• IEC: IEC 60068-2-14

• GB/T: GB/T 2423.22

應用領域

• 集成電路（IC）設計與封裝測試

• 處理器（CPU）、圖形處理器（GPU）

• 存儲芯片（DRAM, NAND Flash）

• 功率半導體（IGBT, MOSFET）

• 傳感器與MEMS器件

產品特點

1. 超快速轉換： <10秒轉換時間，滿足最嚴苛的熱沖擊測試標準。

2. 高潔凈度內箱： SUS304不銹鋼內膽，防止測試過程中污染敏感器件。

3. 精密控制： 采用PID+SSR控制，溫度波動度小，確保測試條件的一致性。

4. 安全保護： 具備多重安全保護（超溫、過載、風機過熱等），并可選配氮氣吹掃功能，防止冷凝水對精密器件的潛在影響。

5. 人性化操作： 大尺寸觸摸屏，圖形化界面，程序編輯簡單，數據記錄完整。

風道系統

采用特殊優化的高效離心風機與可調式風道設計。在高溫區和低溫區內，氣流自上而下垂直送風，確保高風速、高均勻性的溫度場，使樣品能迅速且均勻地達到目標溫度。風門切換機構采用氣動式，動作迅速可靠，是實現快速溫度轉換的核心部件之一。